Detalles de los equipos
Descripción
Descripción: Cabezal de prueba equipado con cuatro sondas colineales acoplado a un electrómetro y fuente de corriente de precisión.
Uso: Medición exacta de la resistencia de hoja (sheet resistance) y resistividad eléctrica de semiconductores, películas delgadas y recubrimientos conductores.
Uso: Medición exacta de la resistencia de hoja (sheet resistance) y resistividad eléctrica de semiconductores, películas delgadas y recubrimientos conductores.
Información
| Nombre | SISTEMA DE MEDICION De resistividad de 4 puntos marca Ossila |
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Proyectos
- 1 Terminado
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MAGNETIC PROPERTIES OF THIN FILMS AND NANOSTRUCTURES WITH COMPLEX GEOMETRIES
Palma Solorza, J. L. (Investigador principal)
15/11/15 → 14/11/18
Proyecto: Investigación