Detalles de los equipos
Descripción
Descripción: Microscopio de fuerza atómica (AFM) de ultra alta resolución y gran formato, diseñado para escaneo topográfico avanzado.
Uso: Caracterización nanométrica de la topografía superficial, mapeo de propiedades mecánicas, eléctricas y magnéticas de nanomateriales, polímeros y películas delgadas.
Uso: Caracterización nanométrica de la topografía superficial, mapeo de propiedades mecánicas, eléctricas y magnéticas de nanomateriales, polímeros y películas delgadas.
Información
| Nombre | Microscopio de barrido por sonda marca OXFORD modelo Jupiter XR |
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Proyectos
- 1 Terminado
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MICROSCOPIO DE SONDA DE BARRIDO DE FUERZA ATOMICA Y DE FUERZA MAGNETICA CON CELDA DE TEMPERATURA CON ATMOSFERA CONTROLADA APLICACION DE CAMPO MAGNETICO EXTERNO CONTROLADO Y SISTEMA DE LITOGRAFIA POR OXIDACION ANODICA.
Palma Solorza, J. L. (Investigador principal), Fuentealba Duran, J. F. (Coinvestigador), Muñoz Hernandez, L. A. (Coinvestigador), González-Pavez, I. (Coinvestigador) & Duarte Mermoud, M. A. (Coinvestigador)
1/11/21 → 30/04/25
Proyecto: Investigación