Microscopio de barrido por sonda marca OXFORD modelo Jupiter XR

Juan Luis Palma Solorza (Manager)

Equipment/facility: Equipment

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Santa Isabel - Nro: 1114 - 1186
Chile

Description

Descripción: Microscopio de fuerza atómica (AFM) de ultra alta resolución y gran formato, diseñado para escaneo topográfico avanzado.

Uso: Caracterización nanométrica de la topografía superficial, mapeo de propiedades mecánicas, eléctricas y magnéticas de nanomateriales, polímeros y películas delgadas.

Details

Name	Microscopio de barrido por sonda marca OXFORD modelo Jupiter XR

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Name	Juan Luis Palma Solorza

MICROSCOPIO DE SONDA DE BARRIDO DE FUERZA ATOMICA Y DE FUERZA MAGNETICA CON CELDA DE TEMPERATURA CON ATMOSFERA CONTROLADA APLICACION DE CAMPO MAGNETICO EXTERNO CONTROLADO Y SISTEMA DE LITOGRAFIA POR OXIDACION ANODICA.
Palma Solorza, J. L. (PI), Fuentealba Duran, J. F. (CoI), Muñoz Hernandez, L. A. (CoI), González-Pavez, I. (CoI) & Duarte Mermoud, M. A. (CoI)
1/11/21 → 30/04/25
Project: Research

Microscopio de barrido por sonda marca OXFORD modelo Jupiter XR

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MICROSCOPIO DE SONDA DE BARRIDO DE FUERZA ATOMICA Y DE FUERZA MAGNETICA CON CELDA DE TEMPERATURA CON ATMOSFERA CONTROLADA APLICACION DE CAMPO MAGNETICO EXTERNO CONTROLADO Y SISTEMA DE LITOGRAFIA POR OXIDACION ANODICA.